Автоматизация сканирования толстоплёночных резисторов в экспериментальных исследованиях процессов подгонки

Предлагается решение, повышающее эффективность проведения экспериментальных исследований влияния подгонки толстопленочных резисторов на функциональную характеристику и распределение потенциала. Выделяются и описываются характерные особенности аппаратно-программного комплекса для сканирования резистивных элементов. Особое внимание акцентируется на анализе различий получаемых характеристик резистивных элементов вследствие электроискровой и лазерной подгонки.