Методика автоматизации научных исследований функциональных характеристик наноструктурированных элементов в современных индикаторных устройствах

Максимова О.В., Мойсеенко С.В.

Описаны проведенные исследования методов и средств измерения основных параметров жидкокристаллических структур и тонкопленочных электролюминесцентных излучателей. Сформулированы концептуальные подходы к разработке автоматизированных систем измерения светотехнических параметров наноструктурированных индикаторных элементов.

Ключевые слова: автоматизация, жидкие кристаллы, измерения, светоотдача, тонкопленочный индикатор, формализация, электролюминесценция, яркость

Последний вышедший номер

Читайте в номере:

Возможности струйных пневматических систем для управления робототехническими устройствами

Автоматизированное управление процессом доменной плавки по дутьевым параметрам

Автоматизация обработки результатов натурных испытаний пожарной ствольной техники на основе распознавания изображений

Вопросы организации процесса верификации программного обеспечения АСУТП АЭС

Адрес редакции: 117997, Москва, Профсоюзная ул., д. 65, оф. 360
Телефон: (926) 212-60-97.
E-mail: info@avtprom.ru или avtprom@ipu.ru