Рассмотрен вопрос определения объёма тестовых испытаний для программно-аппаратных устройств информационного комплекса. Обоснован критерий окончания тестирования и определены основные компоненты программы имитации неисправностей для испытаний микропроцессорного устройства. Предлагается методика оценки выполнения программных функций устройства в процессе тестирования на основе совместного использования техники фаззинга и применения математического аппарата нечёткой логики. Приводятся результаты выявления дефектов программного обеспечения при имитации сбоев и отказов устройства, подтверждающие эффективность предлагаемого подхода.

Ключевые слова: имитация отказов и сбоев, программно-аппаратный комплекс, тестирование программного обеспечения, фаззинг

Последний вышедший номер

Читайте в номере:

Передача информации с эталонной диагностикой данных

Алгоритм многопараметрического ранжирования жестких дисков по риску отказа

Проектирование программно-аппаратного комплекса: определение объёма тестовых испытаний микропроцессорных устройств

Выбор рациональных параметров средств адаптации при автоматизированной сборке

Адрес редакции: 117997, Москва, Профсоюзная ул., д. 65, оф. 360
Телефоны: (495) 334-91-30, (926) 212-60-97.
E-mail: info@avtprom.ru или avtprom@ipu.ru