Автоматизация сканирования толстоплёночных резисторов в экспериментальных исследованиях процессов подгонки

Шабдаров Е.В.

Предлагается решение, повышающее эффективность проведения экспериментальных исследований влияния подгонки толстопленочных резисторов на функциональную характеристику и распределение потенциала. Выделяются и описываются характерные особенности аппаратно-программного комплекса для сканирования резистивных элементов. Особое внимание акцентируется на анализе различий получаемых характеристик резистивных элементов вследствие электроискровой и лазерной подгонки.

Ключевые слова: подгонка резисторов, распределение потенциала, сканирование, толстоплёночные резисторы, функциональная характеристика

Последний вышедший номер

Читайте в номере:

Искусственный интеллект в задачах управления химико-технологическими процессами

Прогнозирование редких событий при оценке остаточного ресурса оборудования

Метод унификации типов пневмораспределителей

Нормативно-описательный метод автоматического оценивания действий операторов технологических процессов

Готовится к печати

Читайте в номере:

Опыт обеспечения функциональной безопасности продуктов

Робототизированный комплекс для диагностики ремонта элементов ЛЭП под напряжением

Многопараметрический нейрорегулятор для подогревателя нефтяной эмульсии

Машинное обучение и блокчейн

Адрес редакции: 117997, Москва, Профсоюзная ул., д. 65, оф. 360
Телефон: (926) 212-60-97.
E-mail: info@avtprom.ru или avtprom@ipu.ru