Предлагается решение, повышающее эффективность проведения экспериментальных исследований влияния подгонки толстопленочных резисторов на функциональную характеристику и распределение потенциала. Выделяются и описываются характерные особенности аппаратно-программного комплекса для сканирования резистивных элементов. Особое внимание акцентируется на анализе различий получаемых характеристик резистивных элементов вследствие электроискровой и лазерной подгонки.

Ключевые слова: подгонка резисторов, распределение потенциала, сканирование, толстоплёночные резисторы, функциональная характеристика

Статья из Автоматизация в промышленности №7/2018

Последний вышедший номер

Читайте в номере:

Будущее за программно-определяемой автоматизацией и созданием автоматических производств

Место PLM в пирамиде автоматизации

Методика формирования перечня работ планового технического обслуживания воздушных судов с использованием моделей их функциональных систем

Автоматизация управления производством на основе цифрового двойника и виртуальной производственной системы

Адрес редакции: 117997, Москва, Профсоюзная ул., д. 65, оф. 360
Телефон: (926) 212-60-97.
E-mail: info@avtprom.ru или avtprom@ipu.ru