Методика автоматизации научных исследований функциональных характеристик наноструктурированных элементов в современных индикаторных устройствах

Максимова О.В., Мойсеенко С.В.

Описаны проведенные исследования методов и средств измерения основных параметров жидкокристаллических структур и тонкопленочных электролюминесцентных излучателей. Сформулированы концептуальные подходы к разработке автоматизированных систем измерения светотехнических параметров наноструктурированных индикаторных элементов.

Ключевые слова: автоматизация, жидкие кристаллы, измерения, светоотдача, тонкопленочный индикатор, формализация, электролюминесценция, яркость

Последний вышедший номер

Читайте в номере:

Опыт обеспечения функциональной безопасности продуктов

Робототизированный комплекс для диагностики ремонта элементов ЛЭП под напряжением

Многопараметрический нейрорегулятор для подогревателя нефтяной эмульсии

Машинное обучение и блокчейн

Готовится к печати

Читайте в номере:

Метод адаптивного программирования роботизированного технологического комплекса на основе данных, получаемых от систем технического зрения

Программно-технический комплекс промышленного 3D сканирования

Интеллектуальный метод решения задачи ранжирования требований по информационной безопасности в организационной системе её обеспечения

Адрес редакции: 117997, Москва, Профсоюзная ул., д. 65, оф. 360
Телефон: (926) 212-60-97.
E-mail: info@avtprom.ru или avtprom@ipu.ru