Методика автоматизации научных исследований функциональных характеристик наноструктурированных элементов в современных индикаторных устройствах

Авторы: Максимова О.В., Мойсеенко С.В.

Описаны проведенные исследования методов и средств измерения основных параметров жидкокристаллических структур и тонкопленочных электролюминесцентных излучателей. Сформулированы концептуальные подходы к разработке автоматизированных систем измерения светотехнических параметров наноструктурированных индикаторных элементов.

Ключевые слова: автоматизация, жидкие кристаллы, измерения, светоотдача, тонкопленочный индикатор, формализация, электролюминесценция, яркость

Статья из Автоматизация в промышленности №10/2018

Последний вышедший номер

Читайте в номере:

Автоматизация в промышленности: импортозамещение, применение и опыт

Автоматизированное техническое диагностирование состояния токоведущих частей на воздушных линиях электропередачи

Структура подсистемы генерации 3D-модели по текстовому описанию

Объектная семантическая модель с атрибутивным представлением для комплексной АСУТП

Импортозамещение средств автоматизации на газоперекачивающих агрегатах (ГТК-10И) объектов ООО «Газпром добыча Оренбург»

Читайте в номере:

Автоматизация контроля качества при производстве ультрафиолетовых радиометров

Метод локальной регуляризации для алгоритмов ассоциативного поиска

Искусственный интеллект в информационной безопасности

Преобразователь Холла на основе арсенида галлия для применения в СВЧ-диапазоне

Адрес редакции: 117997, Москва, Профсоюзная ул., д. 65, оф. 360
Телефон: (926) 212-60-97.
E-mail: info@avtprom.ru или avtprom@ipu.ru