Методика автоматизации научных исследований функциональных характеристик наноструктурированных элементов в современных индикаторных устройствах

Максимова О.В., Мойсеенко С.В.

Описаны проведенные исследования методов и средств измерения основных параметров жидкокристаллических структур и тонкопленочных электролюминесцентных излучателей. Сформулированы концептуальные подходы к разработке автоматизированных систем измерения светотехнических параметров наноструктурированных индикаторных элементов.

Ключевые слова: автоматизация, жидкие кристаллы, измерения, светоотдача, тонкопленочный индикатор, формализация, электролюминесценция, яркость

Последний вышедший номер

Читайте в номере:

Искусственный интеллект в задачах управления химико-технологическими процессами

Прогнозирование редких событий при оценке остаточного ресурса оборудования

Метод унификации типов пневмораспределителей

Нормативно-описательный метод автоматического оценивания действий операторов технологических процессов

Готовится к печати

Читайте в номере:

Опыт обеспечения функциональной безопасности продуктов

Робототизированный комплекс для диагностики ремонта элементов ЛЭП под напряжением

Многопараметрический нейрорегулятор для подогревателя нефтяной эмульсии

Машинное обучение и блокчейн

Адрес редакции: 117997, Москва, Профсоюзная ул., д. 65, оф. 360
Телефон: (926) 212-60-97.
E-mail: info@avtprom.ru или avtprom@ipu.ru