Обновлённое ПО расширяет возможности системы параметрического тестирования S530 компании Keithley

Компания Keithley Instruments, Inc., мировой лидер в сфере производства электронных контрольно-измерительных приборов и систем, представила обновленное программное обеспечение для своей популярной системы параметрического тестирования S530 – самого экономически эффективного решения для высокоскоростного параметрического тестирования в полупроводниковой промышленности. Достигнутые улучшения демонстрируют постоянное стремление компании Keithley к удовлетворению потребностей пользователей S530 в отношении удобства обслуживания системы, выполнения измерений, снижения эксплуатационных расходов, а также общего совершенствования параметрического тестирования. Дополнительную информацию можно найти в интернете по этой ссылке.

Инструмент для диагностики и проверки характеристик системы S530

Этот новый инструмент с графическим интерфейсом пользователя расширяет возможности диагностики всех системных измерительных приборов и матричных коммутаторов, повышая общую надёжность системы. Кроме того, пользователи могут выполнить проверку характеристик системы и убедиться в том, что параметры S530 находятся в указанных пределах. Инструмент диагностики и проверки характеристик системы генерирует всеобъемлющие отчёты, упрощая обмен информацией с обслуживающим персоналом компании Keithley и мониторинг состояния системы. Общим положительным эффектом применения этого инструмента является повышение удобства работы с системой S530 при одновременном снижении эксплуатационных расходов.

Расширенные измерительные функции

Обновление включает множество новых измерительных возможностей и повышает гибкость программного обеспечения KTE (Keithley Test Environment). Набор команд, используемый в библиотеке линейного параметрического тестирования (LPTLIB) и библиотеке параметрического тестирования (PARLIB) среды KTE, создан на основе тридцатилетнего опыта компании Keithley в области программирования параметрических тестов. Система параметрического тестирования S530 с новой версией ПО KTE V5.5 может выполнять все измерения ВАХ и ВФХ, необходимые для управления технологическими процессами производства полупроводниковых приборов, мониторинга надёжности и измерения параметров готовых изделий.

Применение S530

Система S530 оптимизирована для параметрического тестирования в условиях промышленного производства, где важную роль играет охват широкого диапазона изделий за счет высокой гибкости и скорости разработки планов испытаний. Кроме 200-вольтовой версии системы, применяемой обычно для стандартных КМОП, биполярных, MEMS и других сравнительно низковольтных полупроводниковых приборов, компания Keithley разработала версию с рабочим напряжением до 1 кВ, оптимизированную для сложного тестирования на пробой и утечку силовых устройств на основе GaN, SiC и Si LDMOS. Кроме того, для такого расширения сферы применения системы, компания Keithley разработала более высокий корпус, вмещающий дополнительные приборы и упрощающий обслуживание системы.

www.keithley.com