Архитектура систем интеллектуальной обработки данных в процессах поиска дефектов при производстве сложных электронных устройств

Описывает разработанная многоуровневая архитектура систем интеллектуальной обработки потоковых данных с использованием методов машинного обучения, способных работать в присутствии значительного информационного шума. В основе системы лежит механизм поиска информационных паттернов, позволяющий обнаруживать закономерности различных уровней абстракции, независимо от природы исходных данных. Целевые системы, построенные на базе данной архитектуры, могут быть применены в процессах контроля качества при производстве сложных электронных устройств. Такие системы, помимо автоматизированного обнаружения дефектов, смогут подняться до выявления причин их возникновения.