Метод диагностики дефектов в цифровых интегральных схемах при помощи встраивания дополнительной логики на этапе проектирования

Беспалов Н.Н., Дёмкин П.М.

DOI: 10.25728/avtprom.2023.10.06

Рассматриваются методы и основные принципы разработки цифровых интегральных схем с учётом реализации дополнительной логики, предназначенной для применения диагностических методов. Описывается необходимость проектирования микросхем с учётом дополнительной диагностической логики, приводятся основные виды дефектов при изготовлении конечного изделия. Приводится описание основных видов конструкций, позволяющих производить диагностику микросхем, их особенности, достоинства и недостатки, а также параметры диагностики и способы их достижения.

Ключевые слова: дефекты, диагностика, комбинационная логика, последовательностная логика, регистры, сканирующие цепи, цифровые схемы

Последний вышедший номер

Читайте в номере:

Метод адаптивного программирования роботизированного технологического комплекса на основе данных, получаемых от систем технического зрения

Программно-технический комплекс промышленного 3D сканирования

Интеллектуальный метод решения задачи ранжирования требований по информационной безопасности в организационной системе её обеспечения

Адрес редакции: 117997, Москва, Профсоюзная ул., д. 65, оф. 360
Телефон: (926) 212-60-97.
E-mail: info@avtprom.ru или avtprom@ipu.ru