Метод диагностики дефектов в цифровых интегральных схемах при помощи встраивания дополнительной логики на этапе проектирования

DOI: 10.25728/avtprom.2023.10.06

Рассматриваются методы и основные принципы разработки цифровых интегральных схем с учётом реализации дополнительной логики, предназначенной для применения диагностических методов. Описывается необходимость проектирования микросхем с учётом дополнительной диагностической логики, приводятся основные виды дефектов при изготовлении конечного изделия. Приводится описание основных видов конструкций, позволяющих производить диагностику микросхем, их особенности, достоинства и недостатки, а также параметры диагностики и способы их достижения.