Проектирование программно-аппаратного комплекса: определение объёма тестовых испытаний микропроцессорных устройств

DOI: 10.25728/avtprom.2020.12.04

Рассмотрен вопрос определения объёма тестовых испытаний для программно-аппаратных устройств информационного комплекса. Обоснован критерий окончания тестирования и определены основные компоненты программы имитации неисправностей для испытаний микропроцессорного устройства. Предлагается методика оценки выполнения программных функций устройства в процессе тестирования на основе совместного использования техники фаззинга и применения математического аппарата нечёткой логики. Приводятся результаты выявления дефектов программного обеспечения при имитации сбоев и отказов устройства, подтверждающие эффективность предлагаемого подхода.