Проектирование программно-аппаратного комплекса: определение объёма тестовых испытаний микропроцессорных устройств

Денисова Л.А., Панков Д.А.

DOI: 10.25728/avtprom.2020.12.04

Рассмотрен вопрос определения объёма тестовых испытаний для программно-аппаратных устройств информационного комплекса. Обоснован критерий окончания тестирования и определены основные компоненты программы имитации неисправностей для испытаний микропроцессорного устройства. Предлагается методика оценки выполнения программных функций устройства в процессе тестирования на основе совместного использования техники фаззинга и применения математического аппарата нечёткой логики. Приводятся результаты выявления дефектов программного обеспечения при имитации сбоев и отказов устройства, подтверждающие эффективность предлагаемого подхода.

Ключевые слова: имитация отказов и сбоев, программно-аппаратный комплекс, тестирование программного обеспечения, фаззинг

Последний вышедший номер

Читайте в номере:

Опыт обеспечения функциональной безопасности продуктов

Робототизированный комплекс для диагностики ремонта элементов ЛЭП под напряжением

Многопараметрический нейрорегулятор для подогревателя нефтяной эмульсии

Машинное обучение и блокчейн

Адрес редакции: 117997, Москва, Профсоюзная ул., д. 65, оф. 360
Телефон: (926) 212-60-97.
E-mail: info@avtprom.ru или avtprom@ipu.ru